XAN500

一台仪器，三种作业模式：XAN®500不只是一台手持便携式XRF设备，它还可以转变为台式仪器或者整合到生产线中...                                                                                                                                                   查看更多〉〉

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MMS PC2

采用不同测量技术的模块化系统：非常适用于与涂镀层厚度测量和材料测试相关的各种需求...                                                                                                        查看更多〉〉

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BETASCOPE

通过 β 射线背散射法进行涂层厚度测量：甚至可用于厚度小于 3 µm 的薄层，以及软涂层或塑料涂层...                                                                                              查看更多〉〉

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CMS2

台式测厚仪，几乎可测量金属或非金属底材上所有金属镀层（包括多镀层）的厚度...

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GOLDSCOPE

GOLDSCOPE系列X射线荧光仪器是专为分析黄金和其他贵金属而设计的...                                                                                                                                                     查看更多〉〉

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XAN

用于快速、高效地测量镀层厚度及材料成分分析的测量仪器...                                                                                                                                                                      查看更多〉〉

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XUL / XULM

基于 X 射线荧光法的测试仪器，坚固耐用，快速、高效地测量镀层厚度，特别适合电镀行业...                                                                                                     查看更多〉〉

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XDL / XDLM / XDAL

功能强大：XDL 系列仪器具有全面的配置方案，可手动或自动测试，是镀层厚度测量与材料成分分析的理想之选...                                                                                                                                                   查看更多〉〉

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XDV-SDD

FISCHERSCOPE® XDV-SDD专为满足最高要求的镀层厚度测量和材料分析而设计...                                                                                                                                        查看更多〉〉

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XDV-µ

FISCHER的XDV-µ型系列仪器，可用于测量电子或珠宝等行业中最微小结构的产品...                                                                                                                                   查看更多〉〉

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XUV

X 射线荧光仪器，配有用于分析轻元素的真空测量室...　 　 　 　 　　　　　　　　　　　查看更多〉〉